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介電常數(shù)測定和介質(zhì)損耗測定有什么區(qū)別
介電常數(shù)測定和介質(zhì)損耗測定是材料電學(xué)性能表征中的兩項(xiàng)關(guān)鍵測試,二者在定義、物理意義、測試方法及應(yīng)用場景上存在顯著差異。以下從專業(yè)角度詳細(xì)對比兩者的區(qū)別:一、核心概念對比特性介電常數(shù)(ε)介質(zhì)損耗(tanδ)定義材料在電場中儲存電能能力的量度...
2025-04-30 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn)
介電強(qiáng)度擊穿電壓試驗(yàn)儀,擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,電壓擊穿試驗(yàn)儀,絕緣材料擊穿電壓試驗(yàn)儀,耐電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀產(chǎn)品名稱:電壓擊穿試驗(yàn)儀產(chǎn)品型號:BDJC-50KV控制方式:微機(jī)控制滿足標(biāo)準(zhǔn):1、GB1408-200...
2013-09-10 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀適用范圍及功能
首要適用于固體絕緣資料(如:塑料、橡膠、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì))在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓的測驗(yàn)。電容器紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)儀由電腦操控,經(jīng)過我公司自主研制的全新智能數(shù)字集成電路體系與軟件操控體系兩部分來完結(jié),...
2013-09-02 -
體積電阻率表面電阻率測試儀儀器簡單介紹
體積電阻率表面電阻率測試儀儀器簡單介紹體積電阻率表面電阻率測試儀既可測量高電阻,又可測微電流。采用了美國In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω~1×1018Ω,是目前國內(nèi)測...
2013-08-28 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀同一種介質(zhì)材料在不同的試驗(yàn)條件下所得擊穿電壓不同的原因
電壓擊穿試驗(yàn)儀為何交流電壓下測得的擊穿電壓比直流低的疑問。(銷售體積電阻率表面電阻率測試儀)在交變電場下介電系數(shù)是電場頻率的函數(shù),當(dāng)電場頻率小時(shí),介電損耗就小,電場頻率高時(shí),介電損耗就高,就越易被擊穿,請參看德拜方程;而直流電壓下,電場不發(fā)...
2013-08-19 -
影響電壓擊穿試驗(yàn)儀的主要原因(介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀)
影響電壓擊穿試驗(yàn)儀的主要原因(介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀)擊穿電壓的主要因素影響固體介質(zhì)擊穿電壓的因素甚多,下面介紹幾種主要的影響因素。電壓作用時(shí)間如果電壓作用時(shí)間很短,固體介質(zhì)的擊穿往往是電擊穿,擊穿電壓當(dāng)然也較高。隨著電壓作用時(shí)間的增長,擊...
2013-08-12 -
介質(zhì)損失角正切tgδ越大介質(zhì)損耗越大嗎(電壓擊穿試驗(yàn)儀)
介質(zhì)損失角正切tgδ越大介質(zhì)損耗越大嗎(電壓擊穿試驗(yàn)儀/體積電阻率表面電阻率測試儀)絕緣介質(zhì)在交流電壓作用下的介質(zhì)損耗有兩種:一是由電導(dǎo)引起的電導(dǎo)損耗,二是由極化引起的極化損耗。介質(zhì)中如無損耗,則流過的電流是純無功電容電流,并超前電壓向量9...
2013-08-08 -
電壓擊穿試驗(yàn)儀控制分析
電壓擊穿試驗(yàn)儀軟件程序控制功能:☆1.該設(shè)備試驗(yàn)過程中可動態(tài)繪制出試驗(yàn)曲線,試驗(yàn)的曲線可以多種顏色疊加對比,局部放大,曲線上任意一段可進(jìn)行區(qū)域放大分析?!?.可對試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行編輯修改,靈活適用;☆3.試驗(yàn)條件及測試結(jié)果等數(shù)據(jù)可自動存儲;☆4...
2013-08-05